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[主观题]

‎MOS电容器的基本结构包含()。‌

‎MOS电容器的基本结构包含()。‌

A.半导体(Si衬底)

B.金属(栅极/电极)

C.氧化物(SiO2)

D.以上都不是

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第1题

‍肖特基势垒是下面哪种接触形成的?()‍

A.金属-氧化物-半导体接触中,半导体中靠近氧化物的区域

B.金属-氧化物接触中,氧化物中靠近金属的区域

C.P型半导体-N型半导体接触时产生的结区

D.金属-半导体接触中,半导体中靠近金属的区域

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第2题

MOS场效应管结构包括()。

A.源极

B.栅极

C.漏极

D.基极

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第3题

BIOS全称是()

A.不间断供电系统

B.基本输入输出系统

C.金属互补氧化物半导体存储器

D.加电自检

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第4题

下面哪种方式是无法减少MOS器件的亚阈值摆幅()。

A.减少衬底掺杂浓度

B.减少SiO2/Si界面处的固定电荷密度

C.减少氧化层厚度

D.降低器件工作温度

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第5题

平带电压VFB</sub>与金属半导体的功函数差及固定电荷密度有关。试设想一种办法,可以从测量不同氧化层厚度的MOS电容器的平带电压来确定这两个因素。

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第6题

金属氧化物半导体场效应管是集成电路中最重要的单极器件。()
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第7题

构成CCD的基本单元是()。

A.光敏二极管

B.MOS电容器

C.PN结

D.P型硅

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第8题

以催化剂形态来区分,常用的加氢催化剂有()、金属硫化物以及金属络合物催化剂

A.氧化硅

B.金属催化剂

C.骨架催化剂

D.金属氧化物

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第9题

MOS管的栅极与双极型三极管的()相对应。

A.基极

B.集电极

C.发射极

D.发射极或集电极

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第10题

以n型半导体MIS结构为例,当在栅极上加上负电压时,随着电压的加大,吸引到半导体表面的()浓度迅速增加,形成反型层。

A.电子

B.电离施主

C.空穴

D.电离受主

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