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[主观题]

设某电子产品的寿命服从指数分布,其密度函数为现从此批产品中抽取容量为9的样本,测得寿命为(

设某电子产品的寿命服从指数分布,其密度函数为现从此批产品中抽取容量为9的样本,测得寿命为(

设某电子产品的寿命服从指数分布,其密度函数为设某电子产品的寿命服从指数分布,其密度函数为现从此批产品中抽取容量为9的样本,测得寿命为(设某电子产现从此批产品中抽取容量为9的样本,测得寿命为(单位:千小时)

答案:

15,45,50,53,60,65,70,83,90,

求平均寿命1/λ的置信水平为0.9的置信区间和置信上、下限.

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第1题

设某种仪器的寿命X服从指数分布,其密度函数为 其中λ>0是未知参数.现随机抽取14台,测得寿命(
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设某种仪器的寿命X服从指数分布,其密度函数为

其中λ>0是未知参数.现随机抽取14台,测得寿命(单位:h)数据如下

试求参数λ的最大似然估计值.

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第2题

设某种仪器的寿命X服从指数分布。其密度函数为其中λ>0是未知参数。现随机抽取14台,测得寿命(单位
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设某种仪器的寿命X服从指数分布。其密度函数为

其中λ>0是未知参数。现随机抽取14台,测得寿命(单位:h)数据如下

1812 1890 2580 1789 2703 1921 2054

1354 1967 2324 1884 2120 2304 1480

试求参数λ的最大似然估计值。

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第3题

某厂的一批电子产品,其寿命T服从指数分布,其密度函数为从以往生产情况如平均寿命θ=2000h.为检

某厂的一批电子产品,其寿命T服从指数分布,其密度函数为

从以往生产情况如平均寿命θ=2000h.为检验当日生产是否稳定,任取10件产品进行寿命试验,到全部失效时停止。试验得失效寿命数据之和为30200.试在显著性水平α=0.05下检验假设

H0:θ=2000vsH1:θ≠2000.

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第4题

设随机变量X服从参数为1的指数分布,求随机变量的函数Y=的密度函数。

设随机变量X服从参数为1的指数分布,求随机变量的函数Y=的密度函数

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第5题

设某主用设备的寿命为T1,备用设备的寿命为T2,则系统寿命是()。
设某主用设备的寿命为T1,备用设备的寿命为T2,则系统寿命是()。

A.T1+T2-T1*T2

B.(T1*T2)/(T1+T2)

C.(T1+T2)/(T1*T2)

D.T1+T2-(T1*T2)/(T1+T2)

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第6题

从一批电子元件中,抽取100个样品,测得它们的使用寿命的均值为2500(h),设电子元件的使用寿命服
从一批电子元件中,抽取100个样品,测得它们的使用寿命的均值为2500(h),设电子元件的使用寿命服

从一批电子元件中,抽取100个样品,测得它们的使用寿命的均值为2500(h),设电子元件的使用寿命服从指数分布e(λ),求参数λ的置信水平为95%的置信区间。

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第7题

设某厂生产的灯泡的使用寿命X~N(1000,σ2)(单位:小时),抽取一容量为9的样本得到 =().
设某厂生产的灯泡的使用寿命X~N(1000,σ2)(单位:小时),抽取一容量为9的样本得到 =().

设某厂生产的灯泡的使用寿命X~N(1000,σ2)(单位:小时),抽取一容量为9的样本得到=().

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第8题

某仪器装有三只独立工作的同型号电子元件,其寿命(单位:小时)都服从同一指数分布,密度函数为试
某仪器装有三只独立工作的同型号电子元件,其寿命(单位:小时)都服从同一指数分布,密度函数为试

某仪器装有三只独立工作的同型号电子元件,其寿命(单位:小时)都服从同一指数分布,密度函数为

试求在仪器使用的最初200小时内,至少有一只电子元件损坏的概率α。

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第9题

设总体为韦布尔分布,其密度函数为现从中得到样本X1,…,Xn证明X(1)仍服从韦布尔分
设总体为韦布尔分布,其密度函数为现从中得到样本X1,…,Xn证明X(1)仍服从韦布尔分

设总体为韦布尔分布,其密度函数为

现从中得到样本X1,…,Xn证明X(1)仍服从韦布尔分布,并指出其参数.

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第10题

设总体X服从双参数指数分布,其分布函数为其中,为样本的次序统计量.试证明服从自由度为2的x卐

设总体X服从双参数指数分布,其分布函数为

其中,为样本的次序统计量.试证明服从自由度为2的x2分布(i=2,...,n).

注:此题有误,讨论的随机变量应为

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